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AFM
Raster-Kraftmikroskopie (AFM =Atomic Force Microscopy)
Mikroskop: Topometrix- TMX 2000 Kontaktmodus, ohne Hochauflösungs-Zusatz, Auflösung: Vertikal ca. 0,5 nm, Bilddokumentation: Digital
Darstellung eines menschlichen Chromosoms der Metaphase auf einem Glasträger.